Data/hora: 12/05/2024 00:30:22

Biblioteca(s): 	Embrapa Instrumentação.	
Data corrente: 	05/10/2018	
Data da última atualização: 	15/01/2019	
Autoria: 	TSENG, C. L.; ALVES, M. C.; CRESTANA, S.	
Afiliação: 	SILVIO CRESTANA, CNPDIA.	
Título: 	Quantifying physical and structural soil properties using X-ray microtomography.	
Ano de publicação: 	2018	
Fonte/Imprenta: 	Geoderma, v. 318, p. 78-87, maio 2018.	
ISSN: 	0016-7061	
DOI: 	10.1016/j.geoderma.2017.11.042	
Idioma: 	Inglês	
Palavras-Chave: 	3D simulation; Degree of anisotropy; Euler-Poincaré number; Microtomography; S index; Shanoon entropy.	
Categoria do assunto: 	--	
Registro original: 	Embrapa Instrumentação (CNPDIA)	
Exemplares: 	CNPDIA - (16878-1) - UPC - AP - DD - PROCI.18-0097 -  - 2018.00128 - DIS